第20屆世界無損檢測大會（20th WCNDT）于2024年5月27日至31日在韓國仁川松島國際會展中心隆重舉行。大會由國際無損檢測委員會（ICNDT）聯(lián)合韓國無損檢測學(xué)會（KSNT）共同主辦，以“無損檢測技術(shù)：創(chuàng)新、挑戰(zhàn)和未來”為主題，旨在促進(jìn)無損檢測技術(shù)的科學(xué)發(fā)展和實(shí)際應(yīng)用。以下是關(guān)于大會的詳細(xì)信息：
大會概況
時間：2024年5月27日至31日
地點(diǎn)：韓國仁川松島國際會展中心
主題：無損檢測技術(shù)：創(chuàng)新、挑戰(zhàn)和未來
參展商和代表：來自全球36個國家和地區(qū)的211家設(shè)備制造商，以及各國和地區(qū)學(xué)會參加了展覽。中國有48家展商，占總數(shù)的23%。
中國參與情況
中國無損檢測學(xué)會組織了約300余位代表參加大會，多位專家在會上發(fā)表了技術(shù)報告。中國的無損檢測產(chǎn)業(yè)正在蓬勃發(fā)展，許多最新的無損檢測領(lǐng)域研究成果在大會上進(jìn)行了展示。
主要活動和亮點(diǎn)
技術(shù)報告和演講：來自世界各地的專家學(xué)者分享了最新的研究成果和技術(shù)應(yīng)用。
展覽：展示了無損檢測領(lǐng)域的最新設(shè)備和技術(shù)，包括超聲無損檢測、射線檢測、磁粉檢測等。
慶祝晚宴和文化活動：大會期間還舉辦了盛大的慶祝晚宴和韓國文化之夜活動，促進(jìn)了國際間的文化交流
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